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半导体特性分析仪_4200-SCS型半导体特性分析系统

金彩汇半导体特性分析仪_4200-SCS型半导体特性分析系统

金彩汇容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。

金彩汇 * 直观的、点击式Windows操作环境

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* 独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至 0.1fA

金彩汇 * 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能

* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡

金彩汇 * 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储

* 独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能

* 内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规

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范的样品测试

金彩汇 * 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备

金彩汇 * 硬件由 Keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充

金彩汇 * 包括驱动软件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台

* 支持先进的半导体模型参数提取，包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

我们公司代理销售中电科思仪/Ceyear、恩智/NGI、横河/YOKOGAWA、是德科技/Keysight、华仪/ECC、泰克/Tektronix、吉时利/Keithley、普源精电/RIGOL、罗森伯格、固纬电子/gwinstek、罗德与施瓦茨、阿美特克、台湾致茂、福禄克、高美测仪、艾德克斯、MCC、费思泰克、同惠电子、法国CA、克列茨等品牌;提供示波器、网络分析仪、功率分析仪、频谱分析仪、光谱分析仪、热像仪、信号发生器、信号源、交流电源、直流电源、源表、示波记录仪、数字功率计、无纸记录仪、数据采集系统、测试线缆、连接器、天线、传感器、LCR测试仪、电子负载、逻辑分析仪、数据采集器、安规测试仪、信号分析仪、示波器探头、电流探头、电压探头、阻抗分析仪、皮安表、纳伏表、静电计、参数分析仪、耐压测试仪、开关电源、混频器、变频器、环形器、电子管、水负载、测试电缆、校准件、EMC电磁兼容测试等产品销售、系统集成、软件开发等服务.客服电话：18518917293